GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
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基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路） |
| 英文名称： | Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits) |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2003-11-24 |
| 实施日期： | 2004-08-01 |
| 首发日期： | 2003-11-24 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 信息产业部第四研究所 |
| 起草人： | 魏华、王静 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-01 |
| 页数： | 16开， 页数：22， 字数：45千字 |
| 书号： | 155066.1-20646 |
适用范围
本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学
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