JIS C6115-2-2006 pin-FET模块的测量方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-20 09:43:52
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来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Measuringmethodsofpin-FETmodules
【原文标准名称】:pin-FET模块的测量方法
【标准号】:JISC6115-2-2006
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2006-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,pin-FETそジュールの電気的?光学的特性の測定方法について規定する。
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:31_080_01;31_260;33_180_01
【页数】:22P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:pin-FET模块的测量方法
【标准号】:JISC6115-2-2006
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2006-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,pin-FETそジュールの電気的?光学的特性の測定方法について規定する。
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:31_080_01;31_260;33_180_01
【页数】:22P;A4
【正文语种】:日语
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