【英文标准名称】:Ironores-Methodofsamplingandsamplepreparationforphysicaltesting
【原文标准名称】:铁矿石.物理试验用取样和样品制备方法
【标准号】:BSISO10836-1995
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1995-04-15
【实施或试行日期】:1995-04-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:精密度;机械试验;铁矿石;试验设备;试样制备;金属矿;矿物;物理试验;试样;再现性;抽样方法
【英文主题词】:Definition;Definitions;Ironores;Physicalproperties;Samplingmethods;Specimenpreparation;Testequipment;Testspecimens;Testing
【摘要】:Thetestingcoveredreferstothephysicaltestmethodsspecifiedintherelevantinternationalstandards(ISO3271,3852,4695,4696,4698,4700,7215,7992).Withrespecttothebulkdensitytest,onlymethod1inISO3852,usingasmallcontainerforironoreshavinganominaltopsizeof40mmorsmaller,fallswithinthescope.
【中国标准分类号】:D31
【国际标准分类号】:73_060_10
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Timedependentdielectricbreakdown(TDDB)testforgatedielectricfilms
【原文标准名称】:半导体装置.依赖时间的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:BSEN62374-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-10-31
【实施或试行日期】:2008-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:击穿;检验设备;组件;定义;介质;电气工程;电子设备及元件;外壳;故障;大门;热室;寿命;测量技术;半导体器件;应力;测试;测试装置;依赖时间的;电压;电压应力
【英文主题词】:Breakdown;Checkingequipment;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Life(durability);Measuringtechniques;Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语